DE1_SoC_ADA示例实测

BOB_Sun

ADA子卡CD中有DE1_SoC_ADA示例（AD/DA通道loopback测试），但是用户手册中没有写如何测试DE1_SoC_ADA示例，其实可以直接参考4.2 A/D and D/A Converter Performance Evaluation节测试DE2_70_ADA示例步骤，以下将测试步骤以及ADA-GPIO子卡相关设置介绍如下：

所用Quartus lite v18.1版软件

1. 连接DE1-SoC与ADA-GPIO子卡（两个GPIO接口都连接）；用一条SMA线连接DA-Channel B和AD-Channel B；通过USB Blaster线连接DE1-SoC与PC。

2. 将跳帽短接ADA子卡上JP5接头上标注PLL的2个引脚，以此设置DAC B的时钟；

跳帽短接ADA子卡上JP2接头上标注PLL的2个引脚，设置ADC B的时钟；跳帽短接ADA子卡上JP3接头上的引脚1和2，选择MUX。

3. 接通DE1-SoC开发板电源，双击Demonstrations/DE1_SoC_ADA/v文件夹中的stp1.stp，打开后如下图所示。

4. 点击“...”按钮浏览选择DE1_SoC_ADA.sof文件。

5. 点击Program Device按钮开始烧录DE1_SoC_ADA.sof文件，烧录完成后如下图所示。

6. 点击Run Analysis按钮观测实验结果波形图，如下图所示，DA-Channel B为输入，AD-Channel B为输出。

注：在步骤1中也可以用SMA线连接DA-Channel A和AD-Channel A，DA-Channel A为输入，AD-Channel A为输出。那步骤2中的跳帽短接如下设置。
  
将跳帽短接ADA子卡上JP4接头上标注PLL的2个引脚，以此设置DAC A的时钟；

跳帽短接ADA子卡上JP1接头上标注PLL的2个引脚，设置ADC A的时钟；跳帽短接ADA子卡上JP3接头上的引脚1和2，选择MUX。

其余步骤均相同，最后测试结果如下图所示：